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テスター

NLT-1000  LEDテスター 
CUSTOM  カスタム測定器 


※詳しい内容は「製品ガイド」をご覧ください ⇒


  NLT-1000
LEDテスター  

 LEDの特性(電気的特性、光学特性)を分類機と接続し、
高分解能・高精度且つ高速で測定を行なう事が出来ます。

 仕様
測定対象 3素子まで可能
測定ステージ 1ステージ
※ステージ追加も対応可能
測定項目 電気測定:極性判別、VF、VR、IF、IR
光学測定:IV、λp、λd、x、y、CCT、Ra
※その他特殊な測定も対応可能
測定項目数 最大32項目
光学測定機器 浜松ホトニクス製:PMA12
※各社分光器接続可能
分類数 最大256分類
印加電圧 0〜20V
※30Vまで対応可能
印加電流 0〜500mA
※3Aまで対応可能
対応言語 日本語、英語
その他 出力フォーマット:CSV形式
自己診断機能
帳票類関係とのバーコードシステム
上位サーバとのデータ連携
※ご要望に応じて対応可能

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  カスタム測定器
 ・ICテスター                  
 ・有機ELテスター
 ・静電破壊(ESD)試験器

【ICテスター】
 センサーIC類において、ワンチップマイコンをI/FとしてI2CやSPI通信等でデータの送受信を行い、PC上にて感度特性や消費電流を総合的に精査して合否判定や分類を高速に行うことができます。

 仕様例-1
測定対象 MEMS
測定ステージ 1ステージ
測定項目 デバイス情報の読出し(SPI)
データベースの照合と合否判定
分類数 2分類
その他 出力フォーマット:CSV形式
帳票類関係とのバーコードシステム
上位サーバとのデータ連携
 仕様例-2
測定対象 光センサー
測定ステージ 5ステージ
測定項目 光学データの読出し(I2C)
5ステージ分のデータから総合合否判定
分類数 5分類
その他 出力フォーマット:CSV形式
帳票類関係とのバーコードシステム
上位サーバとのデータ連携

【有機ELテスター】
 光学的特性は分光器、電気的特性はソースメーター(計測電源)を
GP-IB制御を用いて測定。高速で分類を行うことができます。

 仕様例-3
測定対象 OLED
測定ステージ 2ステージ
測定項目 電気測定:VF、IR
光学測定:輝度、λp、λd、x、y、CCT、Ra
分類数 5分類
その他 出力フォーマット:CSV形式
上位サーバとのデータ連携
 仕様例-4
測定対象 OLED
測定ステージ 5ステージ
測定項目 電気測定:リーク測定
その他 出力フォーマット:CSV形式
上位サーバとのデータ連携

【静電破壊(ESD)試験器】
 装置組み込み型ユニットで高速ESD印加を行うことができます。

 仕様例-5
測定端子 2端子(ケルビン接続可能)
放電モデル 人体モデル(HumanBodyModel:HBM)
電圧範囲 0V〜4000V
ESD印加回数 最大100回
充電放電時間 10ms
準拠規格 JEITA EIAJ ED-4701/300 試験方法304
JEDEC 22a114D


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※装置仕様及び処理能力は、部品サイズや形状、測定時間や項目数等により変動しますので、別途ご相談の上、決定させていただきます。
※掲載写真はイメージです。撮影や印刷の関係で実物の色と異なる場合がありますので、ご了承ください。
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